?冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要是針對電工電子產(chǎn)品以及初始設(shè)備，適用于考評產(chǎn)品對周邊環(huán)境溫度大幅度變動的適應(yīng)能力，是裝備設(shè)計定型的鑒定試驗(yàn)和批產(chǎn)時期的例行試驗(yàn)中重要的實(shí)驗(yàn)，某些情況下還可以用于環(huán)境應(yīng)力比對試驗(yàn)。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱一般用于持續(xù)高溫、超低溫瞬間變化的條件下，環(huán)境模擬試驗(yàn)新產(chǎn)品的物理特性以及其它有關(guān)特性，經(jīng)檢測后，判斷產(chǎn)品特性，在產(chǎn)品外觀設(shè)計中是否仍能夠滿足設(shè)定的要求，改善、評定和進(jìn)貨檢驗(yàn)。

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冷熱沖擊試驗(yàn)箱?

冷熱沖擊試驗(yàn)箱所引起的無效狀況如下所示：

為保證電子產(chǎn)品有很高的可靠性，除開展相對固定環(huán)境溫度、濕度實(shí)驗(yàn)外，伴隨著新產(chǎn)品的抗?jié)裉岣?，對溫度沖擊試驗(yàn)的需求也不斷增加。

1.起動電機(jī)時周邊器件的環(huán)境溫度迅速上升，關(guān)閉電機(jī)后周邊器件會有環(huán)境溫度驟然下滑；

2.濕度的過多升高造成焊錫絲回流狀況出現(xiàn)；

3.在生產(chǎn)過程中，元件很有可能遭到熱應(yīng)力產(chǎn)生的影響，如：使用焊錫絲焊時;

4.由于產(chǎn)品精度等級，使元件持續(xù)遭到比較大的熱應(yīng)力;

5.在氣溫較低的環(huán)境里傳送到電源上，造成設(shè)備內(nèi)部結(jié)構(gòu)造成陡峭的溫度場；在氣溫較低的環(huán)境里切斷電源可能會致使設(shè)備內(nèi)部結(jié)構(gòu)造成反溫度場。

冷熱沖擊不同于普通濕熱環(huán)境，是指在常溫環(huán)境下，根據(jù)冷熱沖擊的功效，注意不到隱性的故障。影響冷、溫沖擊試驗(yàn)的多半要素有實(shí)驗(yàn)環(huán)境溫度、停留時間、循環(huán)數(shù)、試樣凈重、耗熱量等。